Целта на тази тестова установка е се изследва поведението на панелите, произведени по една малко по-съвременна технология за производство на тънкослойни аморфно силициеви панели, а именно
Tandem Junction.
При тази технология активните фоточувствителни слоеве са два - слой от аморфен силиций и слой от микрокристален силиций, разположени един под друг.
Спектралната чувствителност на този вид панели според данни на производителя е по-добра спрямо тази на класическите аморфно силициеви. Това се дължи на факта, че слоя от микрокристален силиций утилизира и близката инфрачервена зона от слънчевия спектър.
Друга интересна особенност на този вид панели е по-ниският коефицент на деградация, пак според данни на производителя. Това се дължи на факта, че слоят от микрокристален силициий деградира много по-малко от слоя аморфен силиций, а от там и общата деградация на панела се очаква да е над 1.5 пъти по-ниска.
Тъй като основният проблем на аморфно силициевите панели освен по-бързата обща деградация е и зависимостта на производството от околната температура. При дълговременно излагане на ниски околни температури класическите аморфно силициеви панели проявяват свойства подобни на деградация (обратима деградация), която се изразява в интегриране на околната температура и временно изменение на производителността. Този ефект води до намаляване на производителността в края на зимата и пролетта, съответно до по-добра производителност през есента и началото на зимата. Тъй като този ефект не засяга слоя от микрокристален силиций, очакванията към Tandem Junction панелите са за значително намаляване на този ефект.
Данни от работата на тестовата установка може да намерите на:
http://www.sunnyportal.com/Templates/PublicPageOverview.aspx?plant=d159408b-ee1c-40db-9b7b-583de9e051de&splang=en-US